掃描電化學顯微系統（ＳＥＣＭ）

交流掃描電化學顯微鏡系統（ａｃ－ＳＥＣＭ）

間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ｉｃ－ＳＥＣＭ）

微區電化學阻抗測試系統（ＬＥＩＳ）

掃描振動點擊測試系統（ＳＶＥＴ）

電解液微滴掃描系統（ＳＤＳ）

交流電解液微滴掃描系統（ａｃ－ＳＤＳ）

掃描開爾文探針測試系統（ＳＫＰ）

非觸式微區形貌測試系統（ＯＳＰ）

出色的性能

快速***的閉環定位系統為電化學掃描探針納米***研究的需求而特別設計。結合Ｕｎｉｓｃａｎ　獨特的混合型３２－ｂｉｔ?。模粒眉夹g，用戶可以選擇合適實驗研究的***佳配置

先進和靈活的工作平臺

系統可提供９種探針技術，使得Ｍ４７０成為全球***靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。

全面的附件

７種模塊可選，３種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。

Ｍ４７０新產品特征

ＳＥＣＭ自動處理曲線

ＳＥＣＭ用戶自定義處理曲線步長變化

高分辨率讀取

手動或自動調節相位

Ｍ４７０同時具備如下特點：

傾斜校正

Ｘ或Ｙ曲線相減（５階多項式）

２Ｄ或３Ｄ快速傅里葉變化

實驗，探針移動和區域繪圖的自動排序

圖形實驗測序引擎（ＧＥＳＥ）

支持多區域掃描

所有實驗多個數據視圖

峰值分析

Ｍ４７０是由Ｕｎｉｓｃａｎ儀器開發的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術。

Ｍ４７０技術參數

工作站（所有技術）

掃描范圍（ｘ，ｙ，ｚ）　　　　　　　　　　　大于１００ｎｍ

掃描驅動分辨率　　　　　　　　　　　　　　***高０．１ｎｍ

閉環定位　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　線性零滯后編碼器，直接實時讀出ｘ，ｚ和ｙ位移

軸分辨率（ｘ，ｙ，ｚ）　　　　　　　　　　　?。玻埃睿?/span>

***大掃描速度　　　　　　　　　　　　　　　　?。保玻担恚恚?/span>

測量分辨率　　　　　　　　　　　　　　　　　　?。常玻猓椋艚獯a器＠高達４０ＭＨｚ

壓電（ｉｃ－和ａｃ－掃描探針技術）

振動范圍　　　　　　　　　　　　　　　?。玻埃睿怼。拨蹋矸迮c峰之間１ｎｍ增量

***小振動分辨率　　　　　　　　　?。埃保玻睿恚ǎ保叮猓椋簟。模粒?，４μｍ）

壓電晶體伸展　　　　　　　　　　　?。保埃唉蹋?/span>

定位分辨率　　　　　　　　　　　　　?。埃埃梗睿恚ǎ玻埃猓椋簟。模粒谩?，１００μｍ）

機電

掃描前端　　　　　　　　　　　　　　　?。担埃啊粒矗玻啊粒叮罚担恚恚ǎ取粒住粒模?/span>

掃描控制單元　　　　　　　　　　　?。玻罚怠粒矗担啊粒矗埃埃恚恚ǎ取粒住粒模?/span>

功率　　　　　　　　　　　　　　　　　　　?。玻担埃?/span>